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透射电子显微镜TEM透射电子显微镜（TransmissionElectronMicroscope,简称TEM），是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如荧光屏，胶片以及感光耦合组件）上显示出来的显微镜。1背景知识在光学显微镜下无法看清小于，这些结构称为亚显微结构或超细结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。目前TEM分辨力可达。▽电子束与样品之间的相互作用图来源：《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]透射的电子束包含有电子强度、相位以及周期性的信息，这些信息将被用于成像。2TEM系统组件TEM系统由以下几部分组成：l电子.：发射电子。由阴极，栅极和阳极组成。阴极管发射的电子通过栅极上的小孔形成射线束，经阳极电压加速后射向聚光镜，起到对电子束加速和加压的作用。宁波多功能显微镜找哪家Leica徕卡-显微镜-提供种类光学显微镜！

这就是观察到横向力和对应形貌图像中峰谷移动的原因。同时，所观察到的摩擦力变化是由样品与LFM针尖间内在横向力变化引起的，而不一定是原子尺度粘附-滑移过程造成的。对HOPG在微米尺度上进行研究也观察到摩擦力变化，它们是由于解离过程中结构发生变化引起的。解离的石墨表面虽然原子级平坦，但也存在线形区域，该区域摩擦系数要高近一个数量级。TEM结果显示这些线形区域包括有不同取向和无定形碳的石墨面。另一关于原子尺度表面摩擦力特征研究的重要实例是云母表面。利用LFM系统研究了氮化硅针尖与云母表面间的摩擦行为，考察了摩擦力与应力、针尖几何形状、云母表面晶格取向和湿度等因素之间的对应关系。云母表面微观摩擦系数与扫描方向、扫描速度、样品面积、针尖半径、针尖具体结构以及高于70%的湿度变化无关。然而，针尖大小和结构以及湿度又会影响云母样品表面摩擦力的.值大小。此外，应力较低时，摩擦力与应力之间有非线性关系，这是由于弹性形变引起了接触面积变化。利用LFM对边界润滑效应的研究已有报道。LB膜技术沉积的花生酸镉单层与硅基底相比，摩擦力.下降了1/10，而且很容易观察到膜上的缺点。具有双层膜高度的小岛被整片移走。

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这些技术利用不同的表面性质，能够很好地区分开在形貌上差别很小或是材料表面上难以检测到的不同组分。5．4．1力调制技术力调制（forcemodulation）成像是研究表面上不同硬度（刚性）和弹性区域的SFM技术。可以验明复合物、橡胶和聚合混合物中不同组分间的转变，测定聚合物的均匀性，成像硬基底上的有机材料，检测集成电路上的剩余感光树脂以及验明不同材料的污染情况等。图。使用力调制技术，探针在扫描的垂直方向有一小的振荡（调制），比扫描速度快很多。样品上的作用力大小被调制在设置点附近，这样样品上的平均作用力同简单接触模式是相等的。当探针与样品接触时，表面阻止了微悬臂的振荡并引起它的弯曲。在相同作用力条件下，样品刚性区域的形变要比柔性区域小很多。也就是说，对于垂直振荡的探针，刚性表面对其产生更大的阻力，随之微悬臂的弯曲就较大。微悬臂形变幅度的变化就是对表面相对刚性程度的测量。形貌信息（直流或非振荡形变）与力调制数据（AC或振荡形变）是同时采集的。早期的力调制是在压电扫描器z方向加一调制信号来诱导垂直振荡。这项技术虽然得到广泛应用，但也存在一些缺点。额外高频调制信号加到压电扫描器，能激发扫描器的机械共振。工业显微镜 高分辨率和精细色彩记录的成像系统,高像素,高帧率,高稳定性。荆门数码显微镜

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